Рейтинг
Порталус

ВОЗМОЖНОСТЬ ОПРЕДЕЛЕНИЯ РАЗМЕРОВ НАНООБЪЕКТОВ В ИТЭР МАТЕРИАЛАХ (ПОРИСТЫХ СИСТЕМАХ, ДЕФЕКТНЫХ МАТЕРИАЛАХ И НАНОМАТЕРИАЛАХ) ПО МЕТОДУ ПОЗИТРОННОЙ АННИГИЛЯЦИОННОЙ СПЕКТРОСКОПИИ

Дата публикации: 12 марта 2012
Автор(ы): В.И.Графутин, Ю.Ф.Козлов, О.В.Илюхина, В.Ю.Милосердин, Г.Г.Мясищева, Е.П.Прокопьев, Г.И.Савельев, С.П.Тимошенков, Ю.В. Фунтиков, Ю.А.Чаплыгин →
Публикатор: Prokopiev
Рубрика: ВОПРОСЫ НАУКИ ВОПРОСЫ НАУКИ →
Источник: (c) http://portalus.ru →
Номер публикации: №1331571173


В.И.Графутин, Ю.Ф.Козлов, О.В.Илюхина, В.Ю.Милосердин, Г.Г.Мясищева, Е.П.Прокопьев, Г.И.Савельев, С.П.Тимошенков, Ю.В. Фунтиков, Ю.А.Чаплыгин, (c)

Сайт автора: http://es.rae.ru/mmt/132-395

Известно, что позитроны эффективно зондируют свободные объемы нанообъектов с размерами в ангстремном и нанометровом диапазонах как в металлах и сплавах, так и в полупроводниках и пористых системах. Особую важность представляет возможность определения размеров нанообъектов в ИТЭР материалах, облученных нейтронами. Для этого необходимо проведение комплексных исследований дефектной структуры ИТЭР материалов, содержащих полости нанометровых размеров (вакансии, вакансионные кластеры, поры) с использованием различных методов позитронной аннигиляционной спектроскопии (ПАС). Это позволяет установить связи между экспериментально измеряемыми параметрами аннигиляционных спектров и характеристиками нанодефектов (типом, размером, концентрацией) в этих материалах. При этом поведение радиационных дефектов нанометрового размера оказывается весьма важным. Выполнение такого рода исследований будет способствовать накоплению фундаментальных знаний о радиационных повреждениях нейтронами в ИТЭР материалах, развитию теоретических моделей, описывающих свойства и поведение наноразмерных дефектов. Нами было показано, что одним из эффективных методов определения средних размеров цилиндрических и сферических нанообъектов (свободных объемов пор, полостей, пустот и т.д.), их средних значений концентрации и химического состава в месте аннигиляции позитрона в пористых системах и некоторых дефектных материалах (и в большом числе технически важных материалах и наноматериалах) является метод позитронной аннигиляционной спектроскопии (ПАС). Это позволяет определять средние значения доли свободного пространства образующегося в материалах электронной и ядерной техники в процессе их эксплуатации. Обсуждалась идея поиска корреляции между значениями свободного объема и электрическими, механическими и другими свойствами материалов, например, их значениями электрофизических параметров и механических воздействий на излом. Дается краткий обзор экспериментальных исследований нанообъектов в полупроводниках и сталях различных марок, используемых в качестве конструкционных материалов в современных ядерных реакторах и ИТЭР материалах, возможно подтверждающих сделанные предположения. При этом важную роль приобретают экспериментальные методы определения прочности и хрупкости металлов и сплавов, облученных нейтронами. Особое значение при этом имеет поиск критичных дефектов, сильно нарушающих механические и радиационные свойства. Более подробно см. http://es.rae.ru/mmt/132-395

Опубликовано на Порталусе 12 марта 2012 года

Новинки на Порталусе:

Сегодня в трендах top-5


Ваше мнение?


КЛЮЧЕВЫЕ СЛОВА (нажмите для поиска): ИТЭР Материалы Нанообъекты позитрон аннигиляция →



Искали что-то другое? Поиск по Порталусу:


О Порталусе Рейтинг Каталог Авторам Реклама